Die minimale Dicke unserer CNMs bringt beim Einsatz als Träger in der Transmissionselektronenmikroskopie deutliche Vorteile gegenüber TEM-Netzchen mit herkömmlichen Trägerfilmen aus Kohlenstoff oder Polymeren. Der Elektronenstrahl muß schließlich nicht nur die zu analysierende Probe, sondern auch die darunter befindliche Trägerschicht durchdringen. Je dicker diese Trägerschicht im Verhältnis zu den Abmaßen der Probe ist, desto stärker wird das vom Mikroskop gewonnene Signal verwischt und das "Bild" wird immer unschärfer. Um Proben im Bereich kleiner als 10 nm zu untersuchen, bieten sich unsere CNMs mit ihrer Dicke von 1-3 nm als deutliche Verbesserung an.
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